什么是熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口（Polarizing microscope）？

熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口（Polarizing microscope）是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質(zhì)，在熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口下就能分辨的清楚，當然這些物質(zhì)也可用染色法來(lái)進(jìn)行觀(guān)察，但有些則不可能，而必須利用熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口。

（1） 熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口的特點(diǎn)
 將普通光改變?yōu)槠�振光進(jìn)行鏡檢的方法，以鑒別某一物質(zhì)是單折射（各向同行）或雙折射性（各向異性）。雙折射性是晶體的基本特性。因此，熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口被廣泛地應用在礦物、化學(xué)等領(lǐng)域，在生物學(xué)和植物學(xué)也有應用。

（2） 熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口的基本原理
熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口的原理比較復雜，在此不作過(guò)多介紹,熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口必須具備以下附件：起偏鏡，檢偏鏡，補償器或相位片，專(zhuān)用無(wú)應力物鏡，旋轉載物臺。

（3） 偏光鏡檢術(shù)的方式
a. 正相鏡檢（Orthscope）:又稱(chēng)無(wú)畸變鏡檢，其特點(diǎn)是使用低倍物鏡，不用伯特蘭透鏡（Bertrand Lens）, 被研究對象可直接用偏振光研究。同時(shí)為使照明孔徑變小，推開(kāi)聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用于檢查物體的雙折射性。
b. 錐光鏡檢（Conoscope）：又稱(chēng)干涉鏡檢，研究在偏振光干涉時(shí)產(chǎn)生的干涉圖樣，這種方法用于觀(guān)察物體的單軸或雙軸性。在該方法中，用強會(huì )聚偏振光束照明。

（4） 熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口在裝置上的要求
 a. 光源：最好采用單色光，因為光的速度，折射率，和干涉現象由于波長(cháng)的不同而有差異。一般鏡檢可使用普通光。
 b. 目鏡：要帶有十字線(xiàn)的目鏡。
 c. 聚光鏡：為了取得平行偏光，應使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。
 d. 伯特蘭透鏡：聚光鏡光路中的輔助部件，這是把物體所有造成的初級相放大為次級相的輔助透鏡。它可保證用目鏡來(lái)觀(guān)察在物鏡后焦平面中形成的平涉圖樣。

（5） 偏光鏡檢術(shù)的要求
 a. 載物臺的中心與光軸同軸。 b. 起偏鏡和檢偏鏡應處于正交位置。 c. 制片不宜過(guò)薄。